紅外(wai)線氣體分析儀檢(jian)測(ce)過程需要在恒(heng)定(ding)的(de)溫(wen)度(du)下進行。環境溫(wen)度(du)發生變(bian)化將直接影響(xiang)(xiang)紅外(wai)光源的(de)穩定(ding)，影響(xiang)(xiang)紅外(wai)輻射(she)的(de)強度(du)，影響(xiang)(xiang)測(ce)量(liang)氣室(shi)連續流動的(de)氣樣密度(du)，還(huan)將直接影響(xiang)(xiang)檢(jian)測(ce)器(qi)的(de)正常(chang)(chang)工作(zuo)。如(ru)果溫(wen)度(du)大大超過正常(chang)(chang)狀態，檢(jian)測(ce)器(qi)的(de)輸出阻(zu)抗(kang)下降，導(dao)致儀器(qi)不能正常(chang)(chang)工作(zuo)，甚至損壞檢(jian)測(ce)器(qi)。
      紅外分析(xi)儀內(nei)部一(yi)般(ban)有(you)問孔裝置及(ji)超溫(wen)保護電路，即使如此，有(you)的儀器(qi)示值特(te)別是(shi)微量分析(xi)儀器(qi)，亦(yi)可(ke)觀(guan)察(cha)出環境溫(wen)度(du)變化對檢(jian)測的影響，在夏(xia)季環境溫(wen)度(du)較高時尤為(wei)明顯。在這種(zhong)(zhong)情況下，需(xu)改(gai)變環境溫(wen)度(du)，設置空(kong)調(diao)是(shi)一(yi)種(zhong)(zhong)解(jie)決辦法。
      大氣(qi)(qi)壓力(li)即使在同(tong)一個地區、同(tong)一天(tian)內也是有變(bian)化(hua)(hua)的(de)。若(ruo)天(tian)氣(qi)(qi)驟變(bian)時，變(bian)化(hua)(hua)的(de)幅度(du)較大。大氣(qi)(qi)壓力(li)的(de)這(zhe)種變(bian)化(hua)(hua)，對(dui)氣(qi)(qi)樣放空流速有直接影(ying)響。經測量氣(qi)(qi)室后直接放空的(de)氣(qi)(qi)樣，會隨大氣(qi)(qi)壓力(li)的(de)變(bian)化(hua)(hua)使氣(qi)(qi)室中(zhong)氣(qi)(qi)樣的(de)密(mi)度(du)發生(sheng)變(bian)化(hua)(hua)，從而造成附加誤(wu)差。